成果介紹
本發(fā)明適用于特征點(diǎn)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,提供了一種高光譜圖像特征檢測(cè)方法,所述方法包括:構(gòu)造關(guān)于高光譜圖像f(x, y, λ)中的某點(diǎn)p0和其鄰域上的點(diǎn)p1的加權(quán)相關(guān)性函數(shù);其中,x, y表示空間域坐標(biāo),λ表示光譜域坐標(biāo);根據(jù)所述加權(quán)相關(guān)性函數(shù)構(gòu)造一個(gè)特征點(diǎn)響應(yīng)函數(shù);根據(jù)所述特征點(diǎn)響應(yīng)函數(shù)計(jì)算所述高光譜圖像f(x, y, λ)中的某點(diǎn)p0的特征點(diǎn)響應(yīng)值和其鄰域上所有點(diǎn)的特征點(diǎn)響應(yīng)值;若所述高光譜圖像f(x, y, λ)中的某點(diǎn)p0的特征點(diǎn)響應(yīng)值大于其鄰域上所有點(diǎn)的特征點(diǎn)響應(yīng)值,則該點(diǎn)p0即為所述高光譜圖像f(x, y, λ)的特征點(diǎn);其中,所述特征點(diǎn)為空間域上的角點(diǎn),為光譜域上的極值點(diǎn);本發(fā)明提供的方法使得檢測(cè)出的特征點(diǎn)既能反映高光譜圖像的空間信息又能反映光譜信息,從而提高了高光譜圖像的分類準(zhǔn)確率。
成果應(yīng)用案例介紹
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