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本發(fā)明公開了一種基于時(shí)域差分電流測(cè)量的物理不可克隆芯片電路，包括兩個(gè)電流鏡陣列電路、兩個(gè)電流鏡電路和電流比較器電路，兩個(gè)電流鏡陣列電路的輸出電流分別輸入第一電流鏡電路和第二電流鏡電路；第一電流鏡電路產(chǎn)生的第一子電流和第二電流鏡電路產(chǎn)生的第一子電流分別輸入到電流比較器電路，電流比較器電路對(duì)兩個(gè)子電流進(jìn)行比較后，輸出一個(gè)二進(jìn)制ID位；經(jīng)過多次選擇電流鏡陣列電路的單元電路進(jìn)行輸出并處理后，得到一個(gè)ID序列，作為芯片的身份識(shí)別信息。本發(fā)明具有芯片面積小、低功耗、高可靠性和低成本的特點(diǎn)，可廣泛應(yīng)用于可靠性要求高、功率預(yù)算低的電路工業(yè)上。

元器件>電路>物理不可克隆芯片電路; 測(cè)量實(shí)驗(yàn)>測(cè)量方法>時(shí)域差分電流測(cè)量