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本發(fā)明適用于印制電路板監(jiān)測(cè)領(lǐng)域，提供了一種基于連通域的大幅面PCB板缺陷快速識(shí)別方法，分別提取各自的所有目標(biāo)區(qū)域的連通域，并進(jìn)行標(biāo)識(shí)，根據(jù)連通域的特征量進(jìn)行計(jì)算篩選，刪除一些在允許誤差范圍內(nèi)的基本相同的連通域，篩選出缺陷連通域掃描圖像和對(duì)應(yīng)的缺陷連通域標(biāo)準(zhǔn)圖像，然后進(jìn)一步地通過(guò)差影分析找出兩個(gè)圖像連通域之間的差異，進(jìn)而最終完成PCB的缺陷識(shí)別。本發(fā)明根據(jù)印制電路板的缺陷造成連通域的數(shù)目變化來(lái)判斷出缺陷類(lèi)型，本發(fā)明算法相對(duì)簡(jiǎn)單，通過(guò)圖像匹配、連通域搜尋和差影分析即可檢測(cè)出短路、斷路、殘銅、漏線等PCB典型缺陷。

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